Plateforme de diffraction des rayons X de l'INSP

Une plateforme labellisée de Sorbonne Université.

Expertise :

Analyse structurale de films minces et ultraminces :

• diffraction à haute résolution (theta/2theta, rocking curves, cartographie du réseau réciproque)
• diffraction in-plane sous incidence rasante
• réflectivité (épaisseur, rugosité et densité du film)

Etude de films texturés : 

• figures de pôles, in-plane pole figures

Etude d’échantillons ultraminces de poudres :

• diffraction in-plane mise à profit pour des échantillons ultraminces et polycristallins

• Étudier vos besoins, adapter la configuration de mesure et effectuer les acquisitions
• Produire les résultats sur mesure : des données brutes à leur traitement et interprétation pour des rapports finalisés
• Garantir la confidentialité des données et des résultats

• Acquisition de données de diffraction X

Ouvert aux établissements privés ou publics / Devis sur demande.