Plateforme de microscopie électronique en transmission - MET

La plateforme Microscopie électronique en transmission de l’IMPMC, partie intégrante du réseau des plateformes LUMIC-Sorbonne, est labellisée par le GIS-IBISA depuis 2018.

Des instruments pour la préparation des échantillons : Ultra microtome pour faire des coupes, plasma cleaner pour nettoyer les grilles avant observation, PIPS II pour amincir des échantillons massiques, ioniseur pour rendre les grilles hydrophiles, cryo plongeur automatique ou manuel pour la préparation des grilles cryo.

2 microscopes JEOL : 

• MET FEG JEOL 2100F fonctionnant à 200 kV équipé d’une caméra Gatan Ultra scan 4000, d’un détecteur STEM HAADF, d’un spectromètre EDX et d’un spectromètre EELS/EFTEM. 
• MET LaB6 JEOL 2100 fonctionnant de 60 kV à 200 kV équipé d’une caméra Gatan ultra scan 1000, d’un détecteur STEM BF, d’un spectromètre EDX.

Portes objets simple tilt, cryo, double tilt et pour la tomographie

Du personnel spécialisé dans les domaines des sciences des matériaux, minéralogie et biologie

Des observations et des analyses en continu, plus de 75% d’utilisation de la plateforme par an, de nombreuses collaborations avec des laboratoires de Sorbonne Université, d’Ile de France, de France et même de l’étranger et des collaboration avec des industriels.

La plateforme permet en moyenne une cinquantaine de publications par an.

Notre expertise porte sur les matériaux suivants :

• Lames FIB
• Poudres 
• Nanoparticules
• Couches minces, graphène
• Composés organiques, polymères
• Objets biologiques : bactéries, virus, protéines

• Étudier vos besoins et effectuer l’analyse de faisabilité et le développement méthodologique
• Assurer la formation aux observations et analyses
• Produire les résultats : des données brutes à leur traitement et interprétation pour des rapports finalisés
• Garantir la confidentialité des données et des résultats

• Observation d’échantillon avec une résolution du micron à l’angström (HRTEM)
• Détermination de la phase cristalline ou si c’est amorphe, diffraction électronique
• Analyse chimique élémentaire d’objets
• Imagerie STEM soit HAADF soit BF
• Cartographie chimique élémentaire
• Coloration négative
• Observation cryo-microscopie
• Tomographie avec acquisition d’un tomogramme de -70 à +70 degré
• Spectroscopie EELS avec une résolution de 1 eV
• Imagerie élémentaire EFTEM
• Cartographie STEM / EELS

Ouvert aux établissements privés ou publics / Devis sur demande .