Spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X - XPS

En XPS, on obtient à la fois, la composition élémentaire de la surface du matériau (profondeur de mesure = 10 nm) ainsi que l’état chimique des éléments analysés. La spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X est une méthode de spectrométrie photo électronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X.

Dans une expérience XPS, l'échantillon est bombardé par des rayons X d'une certaine longueur d'onde, ce qui émet un photoélectron qui est par la suite détecté. Les photoélectrons ont des énergies propres à chaque élément, ce qui permet de déterminer la composition de l'échantillon.
Pour une analyse qualitative, l'élément doit avoir une concentration plus élevée que 0,1 %, tandis qu'une analyse quantitative peut être effectuée si 5 % de l'élément est présent.

Expertise

Quelques exemples généraux de systèmes étudiés par XPS :

• Catalyseur
• Monocouches assemblées
• Oxydes
• Polymères
• Interfaces biologiques
• Analyse de routine

Les échantillons doivent se présenter sous forme massique ou bien de poudre.

• Étudier vos besoins et effectuer l’analyse
• Produire les résultats sur mesure :  des données brutes à leur traitement et interprétation pour des rapports finalisés
• Garantir la confidentialité des données et des résultats

Production de spectres donnant des informations qualitatives et quantitatives sur les compositions élémentaires de la matière, principalement des surfaces solides. Cette technique permet aussi d'obtenir des informations sur la structure.

Ouvert aux établissements privés et publics / Devis sur demande.