• Physique

Laboratoire de physique et d’étude des matériaux | LPEM

  • Unité mixte de recherche

Publié le 22/04/2020 - Mis à jour le 16/12/2024

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  • Dimitri Roditchev

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Autres tutelles

  • Centre National de la Recherche Scientifique | CNRS
  • Sorbonne Université

Publications

  1. Publications LPEM

Publications sur HAL - Archive ouverte

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  • Article dans une revue

Enhancing the Infrared Emission from Silver Chalcogenide Quantum Dots through Microcavity Coupling

Lina Makke, Erwan Bossavit, Dario Mastrippolito, Andrei Shcherbakov, Mariarosa Cavallo, Huichen Zhang, Tommaso Gemo, Albin Colle, Adrien Khalili, Muchuan Hua, Xavier Lafosse, Xiang Zhen Xu, Mathieu Silly, Debora Pierucci, Emmanuel Lhuillier, Benjamin Diroll, Aloyse Degiron, Sandrine Ithurria

Nanocrystals (NCs) appear as a promising platform for cost effective infrared optoelectronics, while offering a simplified coupling to the CMOS platform. However, this perspective is slowed down by toxicity concerns, the most effective materials being based on Pb and Hg. There is currently a large…

Advanced Optical Materials, 2025, ⟨10.1002/adom.202402747⟩. ⟨hal-04894981⟩

  • Article dans une revue

SiC MOSFET structure at the die level with AFM sMIM Mode

Rosine Coq Germanicus, Mahima Chaudhary, Kimmo Niskanen, Xavier Larose, Vanessa Chazal, Guillaume Bascoul

For the enhancement of Silicon Carbide (SiC) processes and reliability assessments, precise and comprehensive characterization of the structural and local electrical properties of semiconductor layers at the die level is crucial. In this study, the die-level structure of a commercial SiC MOSFET is…

2024 IEEE 11th Workshop on Wide Bandgap Power Devices & Applications (WiPDA), 2024, pp.1-6. ⟨10.1109/wipda62103.2024.10773106⟩. ⟨hal-04838098⟩

  • Article dans une revue

Numerical investigation of electric charge measurement by PWP method at solid and liquid interfaces

Valentin Berry, Liren Zheng, Paul Leblanc, Stéphane Holé, Thierry Paillat

When a liquid contacts a solid, physicochemical reactions form an electrical double layer (EDL) at the interface. Understanding the EDL is crucial to prevent electrical device failures, but few experimental methods can access this charge distribution. Recently, the pressure wave propagation (PWP)…

Journal of Electrostatics, 2024, 132, pp.103991. ⟨10.1016/j.elstat.2024.103991⟩. ⟨hal-04782090⟩

  • Thèse

Étude et caractérisation des interfaces conducteur/isolant par la méthode de l'onde de pression, Study and characterization of the conductor/insulator interfaces by the pressure wave method

Lin Zheng

Les interfaces entre un conducteur et un isolant sont généralement supposées parfaites, c'est-à-dire que la longueur de Debye dans l'isolant est supposée très grande devant son épaisseur. Il est montré dans ce travail que ce n'est pas le cas et que des états d'interface…, The interfaces between a conductor and an insulator are generally assumed to be perfect, meaning that the Debye length in the insulator is considered to be much larger than its thickness. However, this work shows that this is not the case and that interface states generate a contact potential that…

Sciences de l'ingénieur [physics]. Sorbonne Université, 2024. Français. ⟨NNT : 2024SORUS288⟩. ⟨tel-04849121⟩

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Laboratoire de Physique et d’Étude des Matériaux, École Supérieure de Physique et de Chimie Industrielles, 10 Rue Vauquelin, Bat. C, 75231 PARIS CEDEX 05
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